集成電路 JW3510SOTA#TRPBF 失效分析
日期:2025-12-04 16:29:23 瀏覽量:415 作者:創芯在線檢測中心
綜上測試分析,失效品因EOS導致內部結構燒毀而引起短路失效。
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綜上測試分析,失效品因EOS導致內部結構燒毀而引起短路失效。
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