集成電路 JW3510SOTA#TRPBF 失效分析報告
日期:2025-12-04 14:30:47 瀏覽量:339 作者:創(chuàng)芯在線檢測中心
綜上測試分析,失效品因EOS導致內(nèi)部結(jié)構(gòu)燒毀而引起短路失效。
集成電路 JW3510SOTA#TRPBF 失效分析報告_已簽章.pdf
日期:2025-12-04 14:30:47 瀏覽量:339 作者:創(chuàng)芯在線檢測中心
綜上測試分析,失效品因EOS導致內(nèi)部結(jié)構(gòu)燒毀而引起短路失效。
集成電路 JW3510SOTA#TRPBF 失效分析報告_已簽章.pdf
全國熱線
4008-655-800
CXOLab創(chuàng)芯在線檢測實驗室
深圳市龍崗區(qū)吉華街道水徑社區(qū)吉華路393號英達豐工業(yè)園A棟2樓
深圳市福田區(qū)華強北街道振華路深紡大廈C座3樓N307
粵ICP備2023133780號 創(chuàng)芯在線 Copyright ? 2019 - 2025
友情鏈接:
創(chuàng)芯在線 Copyright ? 2019 - 2025